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奥林巴斯X射线荧光(XRF)矿石分析仪提供高性能的实时地球化学数据,用于土壤重金属,岩石成分和矿石品位和元素含量的分析。奥林巴斯X射线荧光(XRF)矿石分析仪技术的最新进展增加了测量元素的数量,提高了检测限,并缩短了分析测试时间。
矿产类型 | 地球化学特征 |
造山金 | S, As, CO2, K+/– Sb, Te, Mo, W, Cu, Pb, Zn, Hg |
高硫化浅成热液 | Ag, Cu, Te, Mo, Bi, Sn |
低硫化浅成低温热液 | Zn, Hg, Se, K, As, Sb, Ag/Au |
卡林型 | As, Sb, Hg, Tl |
斑岩铜金 | Cu, Pb, Zn, Ag |
Au Skarns | Bi, Te, As, Co |
侵入性相关金 | Bi, W, As, Sb, Mo, Te |
VHMS | Cu, Pb, Zn, Ag, Ba, K, Mg +/–CO2 |
氧化铁 Cu-Au (U) | F, P, Co, Ni, As, Mo, Ag, Ba, U, LREE |
高纯度的金 | 高纯度的 Au +/– 以上任何一种 |
元素 | LOD(ppm)* | 元素 | LOD(ppm)* |
As | 2 | W | 1-2 |
Cu | 2-5 | Bi | 1 |
Pb | 2-3 | Sb | 2 |
Zn | 1 | Ag | 2-5 |
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