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检测仪新闻
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Vanta Element-S(VES)手持式合金分析仪

Vanta Element手持式XRF系列分析仪可以对元素进行分析,Vanta Element-S(VES)手持式合金分析仪从而可使用户以实惠的价格快速完成合金牌号的辨别和分拣。这个系列有两个高性价比型号:

Vanta Element分析仪可以实惠的价格完成合金辨别
Vanta Element-S分析仪可以实惠的价格完成合金辨别,并探测到包含镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、硫(S)和磷(P)在内的轻元素
这两种型号的分析仪都可以快速辨别合金牌号,并在屏幕上清楚地显示牌号对比信息,从而可加速金属检测,有效完成废料分拣、金属制造和贵金属分析等应用。

XRF分析仪的高级特性
Vanta Element系列分析仪具有连通性能,有助于简化废料金属的回收和质量控制过程。

准确且具有重复性的结果
Vanta分析仪的电子部件
Axon技术的稳定性和计数率
方便的数据管理
具有无线连通性能(可选配),可方便地将数据传输到网络上的文件夹中
使用奥林巴斯的科学云系统可以实现云数据存储,并可实时以远程方式查看数据
直接将数据导出到USB驱动盘中。
用于存储结果的1 GB工业用microSD卡
XRF分析仪正在辨别合金
 

Vanta分析仪的技术规格

  Vanta Element型号 Vanta Element-S型号
外型尺寸(宽 × 高 × 厚) 8.3 × 28.9 × 24.2 cm
重量 带电池时1.54公斤;不带电池时1.32公斤。
激励源 2瓦特X射线管,35 kV钨阳极靶材 4瓦特X射线管,50 kV银(Ag)阳极靶材
主光束滤波 固定的铝制滤波片
探测器 Si-PIN探测器 硅漂移探测器(SDD)
电源 14.4 V可拆卸锂离子电池,或者18 V电源变压器,100 ~ 240 VAC,50 ~ 60 Hz,最大70 W
显示 800 × 480(WVGA)电容式液晶显示触摸屏,可使用手指进行控制
操作环境 温度:−10 °C ~ 45 °C,100%占空比 
湿度:10 % ~ 90 %相对湿度,非冷凝
坠落测试 通过了美军标准810-G中的从4英尺(1.22米)高处坠落的测试
IP评级和探测器快门闸保护 IP54:防尘,而且可经受来自各个方向的水溅。
操作系统 Linux
数据存储 microSD插槽,并提供1 GB工业用可插拔SD卡
USB 2个USB 2.0 A型主端口,用于诸如无线局域网、蓝牙和USB闪存驱动盘等配件。 
一个USB 2.0袖珍B型端口,用于连接计算机。
无线局域网 通过可选配的USB适配器,支持802.11 b/g/n(2.4 GHz)无线局域网功能
蓝牙 通过可选配的USB适配器,支持蓝牙功能
质保 1年质保

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